000 01582cam a22003494a 4500
001 CIA01000000000000000073564
005 20220227193308.0
008 040212t20042004wiua bf 001 0 eng
900 _aBK
010 _a2004003464
020 _a0873896203
040 _aDLC
_cDLC
_dDLC
_dUIA P
050 4 _aT 50
_bM423 2004
245 0 4 _aThe metrology handbook /
_cThe Measurement Quality Division ; Jay Bucher, editor
260 _aMilwaukee, Wisc.
_bASQ Quality Press
_cc2004
300 _axvi, 544 p.
_bil.
_c27 cm.
_e1 CD-ROM (4 3/4 plg.)
504 _aIncluye referencias bibliográficas e índice.
505 0 _tBackground --
_tQuality Systems --
_tMetrology Concepts --
_tMathematics and Statistics: Their Use in Measurement --
_tUncertainty in Measurement --
_tMeasurement Parameters --
_tManaging a Metrology Department or Calibration Laboratory.
505 0 _tIncluye material complementario: 1 CD-ROM (8.99 Mb), mismo título y clasificación. Disponible en colección MT.
650 4 _aMetrología -
650 0 _aMediciones -
_vManuales
650 4 _aCalibración -
_vManuales
650 4 _aAseguramiento de la calidad
700 1 _aBucher, Jay L.
_d1949-
710 2 _aAmerican Society for Quality
_bMeasurement Quality Division.
856 4 0 _zTable of contents
_uhttp://www.loc.gov/catdir/toc/ecip0415/2004003464.html
903 _aLUCERO
_b20
_c20060324
_lCIA01
_h1237
903 _aJUANJOSE
_b30
_c20060420
_lCIA01
_h1903
903 _aJUANJOSE
_b30
_c20060420
_lCIA01
_h1905
903 _aJUANJOSE
_b30
_c20060420
_lCIA01
_h1907
903 _c20141127
_lCIA01
_h2301
999 _c160596
_d160596