| 000 | 01230nam a2200325 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | CIA01000000000000000057582 | ||
| 005 | 20220227192052.0 | ||
| 008 | 041208s2009 mx a rb 001 0 spa d | ||
| 900 | _aBK | ||
| 020 | _a9789708172332 | ||
| 020 | _a9708172332 | ||
| 040 |
_aUNAMX _bspa _cUNAMX _dUIAP |
||
| 050 | 4 |
_aT 50 _bE73 2009 |
|
| 100 | 1 |
_aEscamilla Esquivel, Adolfo _eautor |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aMetrología : _by sus aplicaciones / _cAdolfo Escamilla Esquivel. |
| 260 |
_aMéxico, D.F. _bGrupo Editorial Patria _c©2009 |
||
| 300 |
_a138 páginas _bilustraciones _c25 cm. |
||
| 336 |
_atexto _2rdacontent |
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| 337 |
_asin medio _2rdamedia |
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| 338 |
_avolumen _2rdacarrier |
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| 504 | _aIncluye referencias bibliográficas e índice. | ||
| 650 | 4 | _aMetrología | |
| 650 | 4 | _aMedición | |
| 903 |
_aLOGICAT _b20 _c20040112 _lCIA01 _h1416 |
||
| 903 |
_aALEPH14 _b30 _c20051220 _lCIA01 _h1426 |
||
| 903 |
_aPABLO _b50 _c20130321 _lCIA01 _h1638 |
||
| 903 |
_aPABLO _b50 _c20130321 _lCIA01 _h1643 |
||
| 903 |
_c20141127 _lCIA01 _h2301 |
||
| 902 | _aSustitución del 21/03/2013. Título anterior: Martínez Llebrez, Vicente. Fundamentos de normalización y metrología México : IPN : Ministerio de Educación Superior de Cuba, 1998. | ||
| 999 |
_c144803 _d144803 |
||