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_aTK 7871 _b85 O76 |
| 100 | 1 | _aOrozco Mancilla, Javier | |
| 245 | 1 | 0 | _aMedición y prueba de semiconductores (diodos, transistores y tiristores) |
| 260 |
_aMéxico : _bRadio-Gráfica |
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| 300 |
_a43 p. : _bil. ; _c13 cm. |
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| 440 | 0 |
_aSerie Guía rápida ; _v3 |
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_aElectrónica - _xEquipo y aparatos |
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