Medición y prueba de semiconductores (diodos, transistores y tiristores)

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TextSeries: Serie Guía rápida ; 3Publication details: México : Radio-GráficaDescription: 43 p. : il. ; 13 cmSubject(s):

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Préstamo	Biblioteca Pedro Arrupe	Acervo	TK 7871 85 O76 (Browse shelf(Opens below))	Ej. 2	Available		044414
Préstamo	Biblioteca Pedro Arrupe	Acervo	TK 7871 85 O76 (Browse shelf(Opens below))	Ej. 3	Estanteria cerrada		044658

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