Metrología : (Record no. 144803)

MARC details
000 -LÍDER
fixed length control field 01230nam a2200325 a 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
control field CIA01000000000000000057582
005 - FECHA Y HORA DE LA ULTIMA TRANSACCIÓN
control field 20220227192052.0
008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA -- INFORMACIÓN GENERAL
fixed length control field 041208s2009 mx a rb 001 0 spa d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS
ISBN 9789708172332
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS
ISBN 9708172332
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACION
Agencia que crea de manera original el registro UNAMX
Idioma de la catalogación spa
Agencia que realiza la transcripción UNAMX
Agencia que realiza la modificación UIAP
050 #4 - SIGNATURA TOPOGRAFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO (LC)
Número de clasificación T 50
Número del ítem - Cutter E73 2009
100 1# - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL
Nombre personal Escamilla Esquivel, Adolfo
Término relacionador autor
245 10 - MENCIÓN DE TITULO
Título Metrología :
Parte restante del título y sus aplicaciones /
Mención de responsabilidad, etc. Adolfo Escamilla Esquivel.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. (PIE DE IMPRENTA)
Lugar de publicación, distribución, etc. México, D.F.
Nombre del editor, distribuidor, etc. Grupo Editorial Patria
Fecha de publicación, distribución, etc. ©2009
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 138 páginas
Otros detalles físicos ilustraciones
Dimensiones 25 cm.
336 ## -
-- texto
-- rdacontent
337 ## -
-- sin medio
-- rdamedia
338 ## -
-- volumen
-- rdacarrier
504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC.
Nota de bibliografía, etc. Incluye referencias bibliográficas e índice.
650 #4 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMÁTICO
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada Metrología
650 #4 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMÁTICO
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada Medición
900 ## -
-- BK
903 ## -
-- LOGICAT
-- 20
-- 20040112
-- CIA01
-- 1416
903 ## -
-- ALEPH14
-- 30
-- 20051220
-- CIA01
-- 1426
903 ## -
-- PABLO
-- 50
-- 20130321
-- CIA01
-- 1638
903 ## -
-- PABLO
-- 50
-- 20130321
-- CIA01
-- 1643
903 ## -
-- 20141127
-- CIA01
-- 2301
902 ## -
-- Sustitución del 21/03/2013. Título anterior: Martínez Llebrez, Vicente. Fundamentos de normalización y metrología México : IPN : Ministerio de Educación Superior de Cuba, 1998.
Holdings
Ocular ítem Estado perdido Estado dañado No para préstamo Colección Ubicación actual Fecha de ingreso Total Checkouts Total Renewals Clasificación Código de barras Date last seen Date last checked out Estatus del Ítem Material
        Acervo Biblioteca Pedro Arrupe 27/02/2022 1 1 T 50 E73 2009 058327 22/06/2022 15/06/2022 Préstamo Libro